ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΙΩΑΝΝΙΝΩΝ - ΤΜΗΜΑ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ Η/Υ & ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΚΗΣ SITE MAP | ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΙΩΑΝΝΙΝΩΝ - ΤΜΗΜΑ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ Η/Υ & ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΚΗΣ ΕΛΛΗΝΙΚΑ | ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΙΩΑΝΝΙΝΩΝ - ΤΜΗΜΑ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ Η/Υ & ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΚΗΣ ENGLISH
Παρασκευή, 24/11/2017   -   Ομιλίες
Σεμινάριο Τμήματος με τίτλο:"Αξιοπιστία στα κυκλώματα CMOS των νανομετρικών τεχνολογιών", Γεώργιος Τσιατούχας

Στο πλαίσιο της διοργάνωσης των σεμιναρίων του τμήματος θα πραγματοποιηθεί την Παρασκευή 24/11/2017 και ώρα 12:00 στην αίθουσα Σεμιναρίων του Τμήματος Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής, ομιλία με τίτλο "Αξιοπιστία στα κυκλώματα CMOS των νανομετρικών τεχνολογιών". Ομιλητής θα είναι ο κ. Γεώργιος Τσιατούχας, Αναπληρωτής Καθηγητής του Τμήματος Μηχανικών Η/Υ & Πληροφορικής, Πανεπιστημίου Ιωαννίνων.

ΠΕΡΙΛΗΨΗ

Στις σύγχρονες νανομετρικές τεχνολογίες ημιαγωγών, η εξασφάλιση της αξιόπιστης λειτουργίας των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων αποτελεί μια εξαιρετικά σημαντική σχεδιαστική πρόκληση. Οι τεχνολογικές εξελίξεις και η κλιμάκωση των τρανζίστορ επιτείνουν τη φθορά των δομικών μονάδων, επιταχύνουν τη γήρανση των τρανζίστορ και αυξάνουν την ευαισθησία των κυκλωμάτων σε εξωγενείς παράγοντες όπως είναι οι ακτινοβολίες. Σε αυτό το περιβάλλον, η πιθανότητα γένεσης μεταβατικών και διαλειπόντων σφαλμάτων αυξάνει καθοριστικά καθιστώντας εξαιρετικά δύσκολο τον περιορισμό του ρυθμού εμφάνισης λαθών, κατά τη λειτουργία των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων, μέσα στα αποδεκτά πλαίσια των προδιαγραφών. Συνεπώς, με την πάροδο του χρόνου καθίσταται ολοένα και πιο επιτακτική η ανάγκη ανάπτυξης κατάλληλων σχεδιαστικών τεχνικών μετριασμού των ανωτέρω φαινομένων και παροχής εύρωστων ολοκληρωμένων κυκλωμάτων, ανθεκτικών στους μηχανισμούς γένεσης λαθών.
Στην διάλεξη θα αναλυθούν οι μηχανισμοί που επηρεάζουν την αξιοπιστία των νανομετρικών ολοκληρωμένων κυκλωμάτων CMOS και θα παρουσιαστούν τεχνικές αντιμετώπισης του προβλήματος:
α) σε λογικά κυκλώματα, με την ανίχνευση και διόρθωση λαθών χρονισμού,
β) σε κυκλώματα μνημών SRAM, με την ανίχνευση φαινομένων γήρανσης στα τρανζίστορ των κυψελίδων μνήμης και
γ) σε στοιχεία μνήμης μανδαλωτών και flip-flop, με την αποτροπή της εκδήλωσης μεταβατικών λαθών (soft-errors) σε αυτά.

©2010 DEPARTMENT OF COMPUTER SCIENCE & ENGINEERING - UNIVERSITY OF IOANNINA
created by data|SCIENCE

Valid XHTML 1.0 Strict Valid CSS!